13231761108
產品中心
詳細介紹
| 品牌 | 天棋星子 | 應用領域 | 化工,農林牧漁,地礦,建材/家具,道路/軌道/船舶 |
|---|
儀器構成
TD-STD-C高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數據采集和tan5自動測量控件(裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。
參照標準
智能高頻絕緣材料介電常數及介質損耗測試儀依據國jiGB/T5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數和介質損耗角正切值測試方法、GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法.GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。
產品概述
系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tan)和介電常數(c)自動測量的Z佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用TD-STD-C數字Q表具有自動計算介電常數(c)和介質損耗(tan)。
電感組
| 電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約值 | 諧振頻率范圍MHz | 適合介電常數測試頻率 |
| 1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 31~103 | 50MHz |
| 2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 14.8~46.6 | 15MHz |
| 3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 6.8~21.4 | 10MHz |
| 4 | 10μH | ±5％ | 200 | 6pF | 3.410.55 | 5MHz |
| 5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
| 6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 1.06~3.20 | IMHz |
| 7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
| 8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
| 9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
| 10 | 14nH | ±5%v | 100 | 5pF | 100MHz | 100MHz |
主要技術參數
功能名稱：TD-STD-C
信號源范圍 DDS 數字合成信號：100KHZ-160MHZ
信號源頻率覆蓋比：16000:1
信號源頻率精度6位有效數：3*10-5±1個字
采樣精度：12BIT;高精度的AD采樣，保證了Q值的穩定性,以及低介質損耗材料測試時候的穩定性
Q測量范圍：1-1000自動/手動量程
Q分辨率：4位有效數，分辨率0.1
Q測量工作誤差:＜5%
電感測量范圍(4 位有效數，分辨率0.1lnH):InH-140ml分辨率0.InH
電感測量誤差:<3%
調諧電容:主電容17-240pF(一體鍍銀成型，精度高)
電容自動搜索:是(帶步進馬達)
電容直接測量范圍:lpF~25nF
調諧電容誤差:士1pF或<1%
分辨率:0.1pF
介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置
樣品尺寸:固體:材料測量直徑中38mm;厚度可調<15mm;(極片可以定制)
產品咨詢
關注微信
